Zeiss Sigma场发射扫描电子显微镜

Zeiss Sigma系列田间发射扫描电子显微镜为您带来无与伦比的分辨率，对比度和亮度，用于成像高地形样品。

它具有高真空和可变压力模式的操作模式，用于导电和非导电样品的高清成像。

Zeiss Sigma可以通过可选的HD功能将结构降至1.5nm，从而可分辨率降至1.0nm。使用Zeiss Sigma在具有特殊表面地形的非导导样品上解决纳米结构的表面细节等应用，从而获得高分辨率的TEM样图像，这些结构信息的薄段中金属样品的结构信息，测量非导电过滤器上粒子的大小，并研究材料中的故障机制和识别断裂点。