描述

德克萨斯州伍德兰兹市–June 4，2013。与竞争性探测器相比，来自Rigaku的新型D/Tex Ultra 250硅drip探测器可将数据获取时间减少近50％。通过增加光圈的活性面积来实现时间，这增加了总计数率，并具有增加检测器的角度覆盖率的附加优势。通过低能量歧视和二次单色仪的独特组合，实现了极好的能量分辨率或X射线荧光（XRF）抑制。

Rigaku Corporation引入了D/TEX Ultra 250 1D检测器，作为减少X射线衍射时间（XRD）数据获取时间的持续努力的一部分，从而改善了仪器吞吐量和与仪器获取相关的ROI。新的硅条检测器可与Rigaku的顶级SmartLab衍射仪一起使用，该系统可用于其创新的指导软件，自动对齐和CBO光学器件。

D/TEX Ultra 250比以前的模型有许多改进出色的能源分辨率。