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加利福尼亚州圣巴巴拉- Anasys Instruments宣布发布nanoIR2™，这是基于afm的第二代红外光谱。

Anasys Instruments自豪地宣布nanoIR2™，第二代基于AFM的红外光谱(AFM-IR)平台。一个关键的突破是纳米ir2能够在顶部照明的情况下工作，消除了之前在ZnSe棱镜上制备样品的需要，并能够对更多样化的样品进行测量。AFM-IR测量现在已经在广泛的样品上得到验证，包括半导体器件、薄膜、纳米复合材料、数据存储样品、矿物、组织切片和聚合物共混物。此外，nanoIR2还提供了新的共振增强模式，极大地提高了该技术的灵敏度，并能够对厚度低于20nm的样品进行AFM-IR测量。

“我们从客户那里听说，他们需要简化样品制备和现场测量样品的能力。我们听取了意见，nanoIR2就是结果，”Anasys的工程总监、nanoIR2项目团队负责人Doug Gotthard解释道。Anasys的科学顾问、应用光谱学学会前主席Curt Marcott博士补充说:“由于消除了基于棱镜的样品制备，nanoIR2极大地扩展了AFM-IR的应用范围。这将进一步增加该技术在解决工业问题方面的成功，并为学术界的纳米级化学分析提供强大的工具。”Anasys首席技术官Craig Prater博士补充说:“新的nanoIR2结合了新的专利技术，提高了灵敏度。通过我们新的“共振增强模式”，我们已经证明了从20纳米薄的聚合物薄膜中获得高质量红外光谱的能力。”

nanoIR2系统结合了强大的全功能原子力显微镜(AFM)的纳米尺度空间分辨率能力和红外光谱无与伦比的化学表征和识别能力。它提供的光谱与FTIR体光谱具有良好的相关性，并可导入标准FTIR数据库中用于样品成分识别。nanoIR2平台的用户可以通过AFM快速测量样品区域，然后快速获取选定区域的高分辨率化学光谱或获得固定波长的高分辨率化学图像。机械和热性能，如局部热转变，也可以用纳米级分辨率绘制。

nanoIR2系统是政府和私人投资数百万美元的结果。Anasys Instruments获得了NIST先进技术计划、国家科学基金会(NSF)、能源部(DOE)和国防部(DOD)联合技术办公室(JTO)的研究资助。这项技术受到多项美国和外国专利的保护。