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柏林，2013年12月10日:JPK仪器，世界领先的纳米分析仪器制造商，用于生命科学和软物质研究，宣布发布下一代NanoWizard®AFM系统，在倒置显微镜上提供快速扫描和超分辨率。

分析仪器的性能边界不断被推向极限。在原子力显微镜，AFM的世界中，JPK仪器推出了一种新的AFM系统，能够在单一仪器平台上提供快速扫描和超分辨率，即NanoWizard®ULTRA Speed AFM。快速扫描NanoWizard®ULTRA Speed AFM对用户非常重要，因为它能够实时跟踪样品的变化，无论样品是在空气中还是在液体中成像。扫描速度大于100Hz线率，在闭环模式下，通过增强的低噪声扫描仪，位置传感器和检测系统，实现了优秀的真正原子分辨率。新的AFM系统使用JPK独特的QI™(定量成像)模式来提供定量的材料属性映射。

与以前的NanoWizard®系统一样，由于其尖端扫描设计和DirectOverlay™模式，ULTRA Speed AFM可以完全与倒置光学显微镜集成在一起，用于最精确的相关显微镜。同样，由于JPK RampDesigner™和ExperimentPlanner™，该系统提供了广泛的力测量能力，可以对单个分子或活细胞进行测量。该系统与JPK无与伦比的成像模式和附件完全兼容，特别是用于样品的环境控制。

谈到NanoWizard®ULTRA - Speed AFM，创始人兼首席技术官Torsten Jähnke说:“JPK在分辨率和扫描速度方面再次设定了新标准。我们已经成功开发了最低噪音的悬臂偏转系统，当与我们最新的快速，高带宽电子设备放在一起时，即使是在最微妙的样品上，也能够提供最精确的力控制系统，非常适合研究生物或其他软物质系统的用户。这是当今倒置显微镜中最好的多用途、快速和高分辨率机器。”