Axio Imager 2确保材料分析、质量和过程控制的准确和可重复的结果。
凭借出色的光学和均匀的照明，Axio Imager 2可以配置多种对比技术，包括亮场、暗场、微分干涉对比(DIC)、圆形微分干涉对比(C-DIC)、偏振和/或荧光。自动化功能，稳定的机架和无振动的工作条件，确保重复性的结果。
Axio Imager 2可用于粒子分析和/或相关显微镜。研究金属结构，复合材料，玻璃，木材，陶瓷，聚合物，液晶等。
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