Zeiss Crossbeam Fib-Sem显微镜

Zeiss Crossbeam Fib-Sem显微镜将低KV SEM性能与高达100 Na的Fib Current结合使用，用于纳米摄影和纳米化。使用多探测器采集并体验同时铣削和图像的能力。

可视化可选的ATLAS 3D包装，可视化最大的视野，最多可达50 K x 40 K像素。使用可选的激光升级，用于大规模消融的最快技术。结合高电流FIB，制造功能结构，例如微流体设备和从毫米到纳米范围的MEMS。

打开深埋的目标区域或修剪软样品，其中机械制备会导致涂抹，分层或压缩。